JEDEC opublikował standardy testowe nośników UFS

Radek Nimal - piątek, 05 kwietnia 2013, 07:19

JEDEC Solid State Technology Association opublikował standardy testowe dla nośników Universal Flash Storage (UFS).




UFS do niezwykle wydajny interfejs dla masowych pamięci używanych w systemach mobilnych, takich jak smartfony i tablety. Szybkie złącze i zoptymalizowany protokół przesyłu danych pozwalają podnieść przepustowość i ogólną wydajność systemu.

Procedura JESD224 definiuje procedury mierzenia wydajności urządzeń UFS spełniających specyfikację JESD220A. Standaryzacja procedur jest bardzo ważna dla producentów umożliwiając obiektywną orientację w wydajności podzespołów. Pełny opis procedury dostępny jest za darmo na stronie internetowej JEDEC.

Źródło: JEDEC

Tagi: , , , ,

Komentarze są wyłączone

Uprzejmie prosimy o przestrzeganie netykiety przy dodawaniu komentarzy. Redakcja CDRinfo.pl nie odpowiada za tresc komentarzy, ktore publikuja uzytkownicy. Aby zmienic swoj avatar zarejestruj sie w serwisie www.gravatar.com.

Dodaj komentarz
Zaloguj sie, aby dodac komentarz.


Zaloz konto