eFlash 45 nm Samsunga

Radek Nimal - wtorek, 28 maja 2013, 13:17

Samsung Electronics zaprezentował pierwsze na rynku pamięci wbudowane flash (eFalsh) wykonane w technologii 45 nm.





Moduły przeznaczone są do użycia w smart card – kartach identyfikacyjnych takich jak IC, NFC IC, eSE i TPM. Wytrzymują one aż milion cykli zapisu każdej komórki, co stanowi ich przewagę nad standardowo wykorzystywanymi nośnikami o trwałości o połową mniejszej. Pierwsze komercyjna zastosowania nowych pamięci mają pojawić się na rynku w drugiej połowie przyszłego roku.

Źródło: Samsung

Tagi: , ,

Komentarze są wyłączone

Uprzejmie prosimy o przestrzeganie netykiety przy dodawaniu komentarzy. Redakcja CDRinfo.pl nie odpowiada za tresc komentarzy, ktore publikuja uzytkownicy. Aby zmienic swoj avatar zarejestruj sie w serwisie www.gravatar.com.

Dodaj komentarz
Zaloguj sie, aby dodac komentarz.


Zaloz konto